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論文資訊
- 類型：工作論文
- 編號：工作論文 #663
- 日期：2026-03-18
摘要
在最近的出版物中[D. P. Varn、G. S. Canright 和 J. P. Crutchfield，物理學家。 Rev. B 66:17, 156 (2002)]我們引入了一種新技術，可以直接從衍射光譜中發現和描述密堆積結構 (CPS) 中的平面無序。在這裡，我們提供了這些結果背後的理論發展，並採用計算力學來描述材料中的一維結構。透過對比，我們對目前的替代方法——故障模型（FM）進行了詳細分析，並提出了一些批評。然後，我們證明堆疊序列的計算力學描述（以 epsilon 機器的形式）提供了晶體的最小且唯一的描述，無論是有序的、無序的還是某種組合。我們發現我們可以檢測和描述任何數量的無序，以及各種晶體結構的混合物的材料。為了進行比較，我們表明在某些特殊限制下，可以將 epsilon 機簡化為 FM 對斷層結構的描述。比較表明，epsilon 機器可以更深入地了解材料結構，並對這些結構進行更準確的預測。從 epsilon 機可以計算記憶體、結構複雜性和構型熵的度量。我們在四個原型系統上演示了我們的技術，發現它提供的堆疊描述優於迄今為止文獻中使用的任何技術。這種方法的基礎是一種新的 epsilon 機器重建方法，該方法使用從衍射光譜估計的相關函數，而不是像其他領域通常使用的微觀配置序列。結果是，這裡開發的方法可以適用於可以獲得光譜數據的各種實驗系統。