聖塔非研究所

隨機正則精確覆蓋中的相變

2026-03-18 · 工作論文 · 更新 2026/03/18 下午12:33

摘要 精確覆蓋的 k 均勻、d 正規實例是 m 個集合 F n,d,k = { S j ⊆ {1, . 。 。 , n }},其中每個子集的大小為 k,且每個 1 ≤ i ≤ n 都包含在 S j 的 d 中。若存在子集 T ⊆ {1,…, n } 使得 是可滿足的T ∩ S j = 1 對所有 j 。或者,我們可以將其視為 Positive 1 in k SAT 的 d 正規…

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論文資訊

  • 類型:工作論文
  • 編號:工作論文 #111
  • 日期:2026-03-18

摘要

精確覆蓋的 k 均勻、d 正規實例是 m 個集合 F n,d,k = { S j ⊆ {1, . 。 。 , n }},其中每個子集的大小為 k,且每個 1 ≤ i ≤ n 都包含在 S j 的 d 中。若存在子集 T ⊆ {1,…, n } 使得 | 是可滿足的T ∩ S j | = 1 對所有 j 。或者,我們可以將其視為 Positive 1-in-k SAT 的 d 正規實例,即具有 m 個子句和 n 個變數的布林公式,其中每個子句包含 k 個變數並要求其中一個恰好為真。我們用 k > 2 來確定這種類型的隨機實例的可滿足性閾值。讓我們證明,如果 d < d ⋆ ,則 F n,d,k 高機率可滿足;如果 d > d ⋆ ,則 F n,d,k 高機率不可滿足。我們透過簡單應用一階矩和二階矩方法來實現這一點,使用小子圖調節方法將滿足性機率提高到 d ⋆ 以下至 1 − o (1)。